高壓電子顯微鏡
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(high-voltage electron microscopy，HVEM)
同透射電子顯微鏡基本相同，只是電壓特別高。TEM使用的加速電壓是50～100kV，而HVEM使用的電壓是200～1000kV。由于電壓高，就會(huì)大大減少造成染色體畸變的可能，因此，可以用較厚的細(xì)胞切片研究細(xì)胞的結(jié)構(gòu)，切片的厚度最大可達(dá)1μm，相當(dāng)于普通TEM樣品厚度的10倍。
出自A+醫(yī)學(xué)百科 “高壓電子顯微鏡”條目 http://m.timberreclaimed.com/w/%E9%AB%98%E5%8E%8B%E7%94%B5%E5%AD%90%E6%98%BE%E5%BE%AE%E9%95%9C 轉(zhuǎn)載請(qǐng)保留此鏈接
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